+48 22 67 525 67
info @ spectro-lab.pl
Imię i Nazwisko Firma lub Instytucja i Dział Adres Kod pocztowy                      Miasto Telefon                                  Adres email

Pola oznaczone (* ) są obowiązkowe.

Opis Newsletter Wyślij wiadomość
Kontakt inną drogą
Po prostu zadzwoń do nas
+48 22 675 25 67
Wyślij fax:
+48 22 811 98 18
Napisz do nas:
info@spectro-lab.pl

Szczegóły

Bezdotykowy optyczny profilometr Nanovea  ST500, oparty o najnowszą technikę aberracji chromatycznej, przeznaczone do szybkich pomiarów dużych powierzchni:

  • Metrologii 3D
  • Profilu powierzchni
  • Chropowatości, tekstury
  • Kształtów i form topograficznych
  • Objętości elementów powierzchni
  • Pola badanej powierzchni
  • Powierzchni przekroju poprzecznego
  • Grubości wartw oraz wysokości skoków i in.
  • Wymiarów ziaren

Zapewnia pomiary zgodne z normami: ISO 4287, ISO 12180, ISO 12181, ISO 12185, ISO 13565 i in.

Profilometry ST500 są najbardziej uniwesalnymi urządzeniami swej klasy na rynku. Dostarczają możliwość ultraszybkiego zbierania obrazów w 2D i 3D dowolnych typów powierzchni i próbek. Aparaty odznaczają się wysokim stopniem modulowości oraz optymalizacji pod potrzreby użytkownika. Rodzielczości profilometrów Nanovea lezą w zakresie od nano- do milimetrów.

Parametry techniczne:

  • Zakres roboczy obiektywów w osi Z: od 110 μm do 20 mm
  • Dokładność pomiaru w Z -  2.5 nm
  • Automatyczny stolik XY do przemieszczania próbek w zakresie 400x400 mm z rozdzielczości 0.1 μm; maksymalna prędkość przemieszczania w XY 200 mm/s
  • Automatyczny stolik Z o zakresie przemieszczania 50 mm.
  • Szybkość zbierania danych 10kHz lub 385 kHz

Opcjonalnie dośtępne:

  • Stoliki obrotowe
  • Kamera obserwacyjna z zoomem
  • Mikroskop optyczny
  • Osprzęt do izolacji wibracyjnej

Urządzenia mają na wyposażeniu oprogramowanie zapewniające gruntowną analizę właściwości powierzchni.
Sprzęt zapewnia wyzbaczanie wartości zgodne z metodami norm ISO.

Zalety techniki:

  • Użytkownik otrzymuje rzeczywisty obraz nie poddany manipulacjom matematycznym - brak utraconych danych.
  • Brak wpływu odbicia światła od powierzchni próbki.
  • Nie wymaga żadnego przygotowania próbki.
  • Możwliwść pomiarów obiektów powierzchniowych o stromych powierzchniach (duże kąty).
  • Szeroki zakres pomiarowy w Z bez konieczności przełączania pomiędzy obiektywami.
  • Możliwość pomiarów wszystkich typów próbek: przezroczyste/matowe, dyfuzyjne/spekularne, polerowane/chropowate.
  • Znakomita rodzieczość pionowa i pozioma

W zależności od celów badań profilometry mogą być wyposażone w:

  • Obiektywy pomiarowe (bogaty wybór rodzielczości oraz zakresów pomiarowych).
  • Stoliki skanujące (różnie zakresy skanowania).
  • Stoliki obrotowe.
  • Stoliki zbliżania głowicy pomiarowej do próbki.
  • Układy obserwacji próbki - lunety, kamery, mikroskopy.
  • Moduły oprogramowania dedykowane do określonych metod analitycznych.
  • Ultraszybkie systemy skanowania (kompleksowe rozwiązanie z obiektywami liniowymi, szybkim modułem akwizycji oraz szybkim stolikiem próbek).
  • Wzorce i próbki kalibracyjne.
  • Stoliki antywibracyjne.
  • Głowice do pomiarów metodą AFM.

Zapraszamy do zapoznania się z przykładowymi artykułami aplikacyjnymi w zakładce "Katalog" (część górna strony produktu)

Zapraszamy do obejrzenia videoprezentacji:

Katalog

Informacje
  • Profilometry (broszura)



  • Przykładowe artykuły aplikacyjne
    • Pomiar wysokości schodków na próbce drukowanych elektrod
    • Pomiary konturu bieżnika opony gumowej
    • Pomiary profilu oraz chropowatości uszczelki
    • Pomiary grubości cienkich warstw
    • Pomiary skorodowanych powierzchni
    • Fraktografia 3D oraz metrologia struktury przełomów
    • Pomiary tekstury powierzchni tworzyw
    • Ewaluacja wymiarowa częsci precyzyjnej

    Polecamy również

    Tribometr

    Tribometr

    Nanotwardościomierze i testery tarcia oraz zużycia

    Nanotwardościomierze i testery tarcia oraz zużycia

         


    Profilometr ST500

    • Chropowatość
    • Profil
    • Objętość
    • Płaskość
    • Wysokość
    • Topografia
    • Przykłady pomiarów
    • Przykłady pomiarów
    • Profilometr ST500